2-5μm红外光谱仪

2-5μm红外光谱仪2-5μm红外光谱仪插图

  • 高达130 kHz全谱读出速率
  • -80 dBm/nm灵敏度
  • 2.0 ~ 5.0 μm带宽
  • 光纤耦合输入
  • 即插即用

 

介绍

中红外(MIR)光谱用于分析中红外信号。在工业和研究中,用于气体、液体和固体的非侵入性表征以及光源的表征。NLIR 2.0 – 5.0 μ m谱仪(S2050-400/S2050-130k)基于一种新的测量方案,将MIR光上转换为近可见光。硅基探测器在探测效率、速度和噪声方面远远优于MIR光探测器。因此,NLIR上转换技术为MIR系统带来了这些吸引人的特性和随之而来的优势。

下面看到的两个版本光谱仪的灵敏度在-80 dBm/nm或更好,最大全光谱读出率是130 kHz! 因此,该光谱仪能够以小于10 μ s的时间分辨率对信号进行表征和通过光谱测量化学过程中含量变化。

参数

2-5μm红外光谱仪插图1

应用案例

 

2-5μm红外光谱仪插图2

40KHz单脉冲测量

用80 kHz的全谱读出率光谱仪测量带宽约为3.5 μ m ~ 4.2 μ m,重复频率为40 kHz脉宽2 ns的超连续光源单脉冲。

图(a)显示12毫秒内采集的原始数据

图(b)显示40 kHz和80 kHz的采样结果,其他区域是空白的

图(c)显示10个原始的连续光谱。到目前为止,光谱的波动是来自光源的噪声。
从此测量可以知道,S2050-130k光谱仪能够表征红外激光的快速调制和其他动态事件。

 

 

 

 

 

2-5μm红外光谱仪插图3

塑料透过率

用一个30 W的碳化硅棒作为红外光源,对50 μ m的聚苯乙烯(PS)薄膜和800 μ m的聚对苯二甲酸乙二醇酯(PET)薄膜进行透射测量。S2050-400光谱仪的曝光时间设置为20毫秒,只捕捉单个镜头。没有对随后的数据进行平均或平滑处理。

在塑料识别或厚度分析的背景下,计算机算法可以允许更短的曝光时间,从而获得更快的采集速度。

 

 

 

 

 

 

2-5μm红外光谱仪插图4

光学薄膜透过率

用一个30 W的碳化硅棒作为红外光源来测量光学薄膜的透射率:3.7 -4.5 μ m的Ge带通滤波器(BPF)和在1064 nm处高反射、2.1 -4.5 μ m高透的YAG镜面。S2050-400光谱仪的曝光时间设置为20毫秒,只捕捉单张照片。没有对随后的数据进行平均或平滑处理。

光学镀膜质量控制和生产监控可能需要这种测量。

 

 

 

反射式光纤探头2-5μm红外光谱仪插图5

光纤反射探头是一种单反射衰减全反射(ATR)晶体,具有光纤耦合的输入和输出的特点。

在本次测量中,来自碳化硅棒的30W光耦合到输入光纤,输出光纤连接到S2050-400光谱仪。首先用空气中的ATR探针作参考,随后探针分别插入水、丙烷-2-醇和葵花籽油中,产生这些吸收图。测量是在100毫秒的曝光时间下进行的单次拍摄,并通过数据扫描一个4像素宽的高斯滤波器进行平滑。

 

 

 

免费光谱仪软件

包含:

  • 一个简单易用的软件程序。
  • 数据实时流、外部触发模式、后台捕获、传输视图、数据保存等。
  • 可根据要求在MATLAB和Python中提供光谱仪的API。

2-5μm红外光谱仪插图6

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