基于滤光片的寿命测量系统

基本信息

Becker&Hickl基于滤光片的寿命测量系统

特点

  • 1个 SPC模块
  • 通过bh ps二极管激光器(BDS-SM或BDL-SMN系列)激励
  • 可选fs光纤激光
  • 通过滤光片选择波长
  • 利用bh HPM-100混合探测器
  • 记录荧光寿命中的动态效应
  • 同时检测荧光和磷光衰变
  • 极高的灵敏度
  • 优良的动态范围
  • 超高时间分辨率
  • 使用BDS-SM激光器和HPM-100-06/07将IRF宽度降至40 ps半宽
  • 使用fs光纤激光器的IRF宽度<20 ps
  • 低成本探测器选项:PMC-150 PMT模块

 

Text Widget
Lorem ipsum dolor sit amet, consectetur adipiscing elit. Vivamus quis neque vel quam fringilla feugiat. Suspendisse potenti. Proin eget ex nibh. Nullam convallis tristique pellentesque.
XML 地图 | Sitemap 地图

威尼斯登录中心